Atomic force microscopy

Atomic Force Microscopy, сокр. AFM
атомно-силовая микроскопия
 Один из методов зондовой микроскопии для исследования локальных свойств поверхности, в котором анализируют силу взаимодействия иглы кантилевера (зонда) с поверхностью исследуемого образца в процессе сканирования, используемый также в нанотехнологии для направленного модифицирования поверхности вещества (материала) на уровне отдельных атомов.
Смотри также atomic force microscope

— Игорь Мостицкий (обсуждение) 11:06, 9 января 2026 (MSK)