Atomic force microscopy: различия между версиями
Материал из Encyclopedia Electronica
м Замена текста — «(MSK)↵</p>» на «(MSK)» |
м Замена текста — «— Игорь Мостицкий (обсуждение) (MSK)|— Игорь Мостицкий (обсуждение) (MSK)|» на «» Метки: ручная отмена ReplaceText |
| (не показана 1 промежуточная версия этого же участника) | |
(нет различий)
| |
Версия от 19:04, 23 января 2026
Atomic Force Microscopy, сокр. AFM
атомно-силовая микроскопия
Один из методов зондовой микроскопии для исследования локальных свойств поверхности, в котором анализируют силу взаимодействия иглы кантилевера (зонда) с поверхностью исследуемого образца в процессе сканирования, используемый также в нанотехнологии для направленного модифицирования поверхности вещества (материала) на уровне отдельных атомов.
Смотри также atomic force microscope
— Игорь Мостицкий (обсуждение) 11:06, 9 января 2026 (MSK)
