Atomic force microscope: различия между версиями
м Замена текста — «— Игорь Мостицкий (обсуждение) (MSK)|— Игорь Мостицкий (обсуждение) (MSK)|» на «» Метки: ручная отмена ReplaceText |
м Замена текста — «2026 (MSK)» на «2026» |
||
| (не показана 1 промежуточная версия этого же участника) | |||
| Строка 1: | Строка 1: | ||
<span style="color: darkslategray;">Atomic Force Microscope, <i>сокр.</i> AFM</span><br/><span style="color: green; font-style: italic;">[[Категория: электроника]] | <span style="color: darkslategray;">Atomic Force Microscope, <i>сокр.</i> AFM</span><br/><span style="color: green; font-style: italic;">[[Категория: электроника]] <span style="color: green; font-style: italic;">[[Категория: нанотехнологии]] <span style="color: green; font-style: italic;">[[Категория: физика]]<span style="color: indigo;">атомно-силовой микроскоп (АСМ)</span><br/><span style="color: darkslategray;"> Прибор для изучения поверхности твёрдых тел, основанный на сканировании острием (иглой) кантилевера (зонда) поверхности и одновременном измерении атомно-силового взаимодействия между острием и образцом (здесь под взаимодействием понимается притяжение или отталкивание кантилевера от поверхности из-за сил Ван-дер Ваальса). В основном используются два режима измерений — контактный и колебательный. АСМ применяется для снятия профиля поверхности и для изменения её рельефа, а также для манипулирования микроскопическими объектами на поверхности. Разрешение достигает атомарного по горизонтали и существенно превышает его по вертикали. Изобретён в 1986 году Г. Биннигом и К. Гербером в США.</span><br/><span style="color: teal;">♦ Atomic force microscopy is a technique for analysing the surface of a rigid material all the way down to the level of the atom.</span><br/><i>Смотри также</i> [[atomic force microscopy]]<br/><br/>— [[Участник:Игорь Мостицкий|Игорь Мостицкий]] ([[Обсуждение участника:Игорь Мостицкий|обсуждение]]) 11:06, 9 января 2026 | ||
Текущая версия от 22:38, 24 января 2026
Atomic Force Microscope, сокр. AFM
атомно-силовой микроскоп (АСМ)
Прибор для изучения поверхности твёрдых тел, основанный на сканировании острием (иглой) кантилевера (зонда) поверхности и одновременном измерении атомно-силового взаимодействия между острием и образцом (здесь под взаимодействием понимается притяжение или отталкивание кантилевера от поверхности из-за сил Ван-дер Ваальса). В основном используются два режима измерений — контактный и колебательный. АСМ применяется для снятия профиля поверхности и для изменения её рельефа, а также для манипулирования микроскопическими объектами на поверхности. Разрешение достигает атомарного по горизонтали и существенно превышает его по вертикали. Изобретён в 1986 году Г. Биннигом и К. Гербером в США.
♦ Atomic force microscopy is a technique for analysing the surface of a rigid material all the way down to the level of the atom.
Смотри также atomic force microscopy
— Игорь Мостицкий (обсуждение) 11:06, 9 января 2026
