Atomic force microscope: различия между версиями
м Замена текста — «(MSK)↵</p>» на «(MSK)» |
м Замена текста — «<p xmlns="http://www.mediawiki.org/xml/export-0.10/" xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance">» на «» |
||
| Строка 1: | Строка 1: | ||
<span style="color: darkslategray;">Atomic Force Microscope, <i>сокр.</i> AFM</span><br/><span style="color: green; font-style: italic;">[[Категория: электроника]]</span> <span style="color: green; font-style: italic;">[[Категория: нанотехнологии]]</span> <span style="color: green; font-style: italic;">[[Категория: физика]]</span><span style="color: indigo;">атомно-силовой микроскоп (АСМ)</span><br/><span style="color: darkslategray;"> Прибор для изучения поверхности твёрдых тел, основанный на сканировании острием (иглой) кантилевера (зонда) поверхности и одновременном измерении атомно-силового взаимодействия между острием и образцом (здесь под взаимодействием понимается притяжение или отталкивание кантилевера от поверхности из-за сил Ван-дер Ваальса). В основном используются два режима измерений — контактный и колебательный. АСМ применяется для снятия профиля поверхности и для изменения её рельефа, а также для манипулирования микроскопическими объектами на поверхности. Разрешение достигает атомарного по горизонтали и существенно превышает его по вертикали. Изобретён в 1986 году Г. Биннигом и К. Гербером в США.</span><br/><span style="color: teal;">♦ Atomic force microscopy is a technique for analysing the surface of a rigid material all the way down to the level of the atom.</span><br/><i>Смотри также</i> [[atomic force microscopy]]<br/><br/>— [[Участник:Игорь Мостицкий|Игорь Мостицкий]] ([[Обсуждение участника:Игорь Мостицкий|обсуждение]]) 11:06, 9 января 2026 (MSK) | |||
Текущая версия от 21:06, 9 января 2026
Atomic Force Microscope, сокр. AFM
атомно-силовой микроскоп (АСМ)
Прибор для изучения поверхности твёрдых тел, основанный на сканировании острием (иглой) кантилевера (зонда) поверхности и одновременном измерении атомно-силового взаимодействия между острием и образцом (здесь под взаимодействием понимается притяжение или отталкивание кантилевера от поверхности из-за сил Ван-дер Ваальса). В основном используются два режима измерений — контактный и колебательный. АСМ применяется для снятия профиля поверхности и для изменения её рельефа, а также для манипулирования микроскопическими объектами на поверхности. Разрешение достигает атомарного по горизонтали и существенно превышает его по вертикали. Изобретён в 1986 году Г. Биннигом и К. Гербером в США.
♦ Atomic force microscopy is a technique for analysing the surface of a rigid material all the way down to the level of the atom.
Смотри также atomic force microscopy
— Игорь Мостицкий (обсуждение) 11:06, 9 января 2026 (MSK)
