Atomic force microscopy: различия между версиями
Материал из Encyclopedia Electronica
м Замена текста — «<p xmlns="http://www.mediawiki.org/xml/export-0.10/" xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance">» на «» |
м Замена текста — «(MSK)↵</p>» на «(MSK)» |
||
| Строка 1: | Строка 1: | ||
<span style="color: darkslategray;">Atomic Force Microscopy, <i>сокр.</i> AFM</span><br/><span style="color: green; font-style: italic;">[[Категория: электроника]]</span> <span style="color: green; font-style: italic;">[[Категория: нанотехнологии]]</span> <span style="color: green; font-style: italic;">[[Категория: физика]]</span><span style="color: indigo;">атомно-силовая микроскоп<u style="color: brown;">и</u>я</span><br/><span style="color: darkslategray;"> Один из методов зондовой микроскопии для исследования локальных свойств поверхности, в котором анализируют силу взаимодействия иглы кантилевера (зонда) с поверхностью исследуемого образца в процессе сканирования, используемый также в нанотехнологии для направленного модифицирования поверхности вещества (материала) на уровне отдельных атомов.</span><br/><i>Смотри также</i> [[atomic force microscope]]<br/><br/>— [[Участник:Игорь Мостицкий|Игорь Мостицкий]] ([[Обсуждение участника:Игорь Мостицкий|обсуждение]]) 11:06, 9 января 2026 (MSK) | <span style="color: darkslategray;">Atomic Force Microscopy, <i>сокр.</i> AFM</span><br/><span style="color: green; font-style: italic;">[[Категория: электроника]]</span> <span style="color: green; font-style: italic;">[[Категория: нанотехнологии]]</span> <span style="color: green; font-style: italic;">[[Категория: физика]]</span><span style="color: indigo;">атомно-силовая микроскоп<u style="color: brown;">и</u>я</span><br/><span style="color: darkslategray;"> Один из методов зондовой микроскопии для исследования локальных свойств поверхности, в котором анализируют силу взаимодействия иглы кантилевера (зонда) с поверхностью исследуемого образца в процессе сканирования, используемый также в нанотехнологии для направленного модифицирования поверхности вещества (материала) на уровне отдельных атомов.</span><br/><i>Смотри также</i> [[atomic force microscope]]<br/><br/>— [[Участник:Игорь Мостицкий|Игорь Мостицкий]] ([[Обсуждение участника:Игорь Мостицкий|обсуждение]]) 11:06, 9 января 2026 (MSK) | ||
Текущая версия от 21:08, 9 января 2026
Atomic Force Microscopy, сокр. AFM
атомно-силовая микроскопия
Один из методов зондовой микроскопии для исследования локальных свойств поверхности, в котором анализируют силу взаимодействия иглы кантилевера (зонда) с поверхностью исследуемого образца в процессе сканирования, используемый также в нанотехнологии для направленного модифицирования поверхности вещества (материала) на уровне отдельных атомов.
Смотри также atomic force microscope
— Игорь Мостицкий (обсуждение) 11:06, 9 января 2026 (MSK)
