Atomic force microscope

Atomic Force Microscope, сокр. AFM
атомно-силовой микроскоп (АСМ)
 Прибор для изучения поверхности твёрдых тел, основанный на сканировании острием (иглой) кантилевера (зонда) поверхности и одновременном измерении атомно-силового взаимодействия между острием и образцом (здесь под взаимодействием понимается притяжение или отталкивание кантилевера от поверхности из-за сил Ван-дер Ваальса). В основном используются два режима измерений — контактный и колебательный. АСМ применяется для снятия профиля поверхности и для изменения её рельефа, а также для манипулирования микроскопическими объектами на поверхности. Разрешение достигает атомарного по горизонтали и существенно превышает его по вертикали. Изобретён в 1986 году Г. Биннигом и К. Гербером в США.
♦ Atomic force microscopy is a technique for analysing the surface of a rigid material all the way down to the level of the atom.
Смотри также atomic force microscopy

— Игорь Мостицкий (обсуждение) 11:06, 9 января 2026 (MSK)