Atomic force microscope

Материал из Encyclopedia Electronica
Версия от 11:06, 9 января 2026; Игорь Мостицкий (обсуждение | вклад) (Новая страница: « <p xmlns="http://www.mediawiki.org/xml/export-0.10/" xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance"><span style="color: darkslategray;">Atomic Force Microscope, <i>сокр.</i> AFM</span><br/><span style="color: green; font-style: italic;">Категория: электроника</span> <span style="color: green; font-style: italic;">Категория: нанотехнологии</span> <span style="color: green; font-style: italic;">...»)
(разн.) ← Предыдущая версия | Текущая версия (разн.) | Следующая версия → (разн.)

Atomic Force Microscope, сокр. AFM
атомно-силовой микроскоп (АСМ)
 Прибор для изучения поверхности твёрдых тел, основанный на сканировании острием (иглой) кантилевера (зонда) поверхности и одновременном измерении атомно-силового взаимодействия между острием и образцом (здесь под взаимодействием понимается притяжение или отталкивание кантилевера от поверхности из-за сил Ван-дер Ваальса). В основном используются два режима измерений — контактный и колебательный. АСМ применяется для снятия профиля поверхности и для изменения её рельефа, а также для манипулирования микроскопическими объектами на поверхности. Разрешение достигает атомарного по горизонтали и существенно превышает его по вертикали. Изобретён в 1986 году Г. Биннигом и К. Гербером в США.
♦ Atomic force microscopy is a technique for analysing the surface of a rigid material all the way down to the level of the atom.
Смотри также atomic force microscopy

— Игорь Мостицкий (обсуждение) 11:06, 9 января 2026 (MSK)

Источник — https://wiki.1963.ru/index.php?title=Atomic_force_microscope&oldid=8073